Piezoconcept can provide fully integrated positioning system for use with inverted optical microscopes (ZEISS, OLYMPUS, NIKON, LEICA). Easy to operate and affordable, our hybrid system combines a manual micrometer driven, two axis, linear motion stage with high resolution, long range nanopositioners ultra-low profile, with either standard or ultra-high speed.

A stable blocking force into each axis of the coarse positioning stage provides a secure base for precision nanopositioning. The nanopositioning systems built into  have the lowest profiles available and provide sub-nanometer resolution under closed loop control
 

Hybrid Systems (combine a 25x25mm Manual MicroStage with a 1, 2 or 3 axis PiezoStage)
1 Axis PiezoStages		2 Axis PiezoStages		3 Axis PiezoStages
Picture	PiezoStage	Picture	PiezoStage	Picture	PiezoStage
	LT-Z Range Z :  - 100 µm - 200 µm - 300 µm - 500 µm Velocity : S* Aperture : 128,5 x 86,5 mm "Well-Plate Sized"		BIO-2 Range X, Y : - 100 µm - 200 µm - 300 µm Velocity : S* Aperture : 54 x 83,6 mm		BIO-3 Range X, Y, Z : - 100 µm - 200 µm - 300 µm Velocity : S* Aperture : 54 x 83,6 mm
			LT-2 Range X, Y : - 100 µm - 200 µm - 300 µm Velocity : S* Aperture : 66 x 66 mm		LT-3 Range X, Y, Z : - 100 µm - 200 µm - 300 µm Velocity : S* Aperture : 66 x 66 mm
	LF-1 Range X :  - 100 µm - 200 µm - 300 µm Velocity : S* Aperture : 66 x 66 mm		LF-2 Range X, Y : - 100 µm - 200 µm - 300 µm Velocity : S* Aperture : 66 x 66 mm		LF-3 Range X, Y : - 100 µm - 200 µm - 300 µm Velocity : S* Range Z : - 50 µm Velocity : HS* Aperture : 66 x 66 mm
			LTHS-2 Range X, Y : - 75 µm Velocity : HS* Aperture : 54 x 83,6 mm		LTHS-3 Range X, Y : - 75 µm Range Z : - 50 µm Velocity : HS* Aperture : 54 x 83,6 mm
			LFHS-2 Range X, Y : - 75 µm Velocity : HS* Aperture : 66 x 66 mm		LFHS-3 Range X, Y : - 75 µm Range Z : - 50 µm velocity : HS* Aperture : 66 x 66 mm
					SPM-3 Range X, Y : - 75 µm Range Z : - 5 µm - 10 µm - 25 µm - 50 µm velocity : HS*

* Velocity : S = Standard / HS = High Speed

Applications
Super Resolution microscopy Nanolithography Particle tracking Confocal microscopy Atomic Force Microscopy